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Pathogene unter Elektronenbeschuss

Pilze und Bakterien, die dem Saatgut anhaften, können den Aufgang des Korns beeinträchtigen. Bis vor wenigen Jahren gab es kaum eine Alternative zu chemischen Beizmitteln. 

Saatgut in einer Hand
iStock / LianeM

(aid) – Pilze und Bakterien, die dem Saatgut anhaften, können zum ernsthaften Problem werden und den Aufgang des Korns beeinträchtigen. Bis vor wenigen Jahren gab es kaum eine Alternative zu chemischen Beizmitteln. Der Beschuss des Saatguts mit Elektronen ist eine mögliche Alternative. Seit 2012 kann Saatgut in Großgeräten behandelt werden, die allerdings für Mengen von über 25 Tonnen pro Stunde ausgelegt sind. Nicht überall sind jedoch solch große Mengen zu verarbeiten und so blieb kleineren Saatgutbetrieben meist doch nur die chemische Beizung.

Eine handlichere, im Fraunhofer-Institut für organische Elektronik, Elektronenstrahl- und Plasmatechnik entwickelte Technik, ist nun die Lösung: In einem vom Bundeslandwirtschaftsministerium geförderten Projekt entstand eine Maschine, die wesentlich geringere Saatgutmengen unter Elektronenbeschuss nehmen kann. Zudem arbeitet diese noch energieeffizienter und ist einfach transportierbar. Auf einem Anhänger montiert, kann die Anlage leicht zum Ort der Produktion gebracht werden. Möglich wurde dies durch die Entwicklung einer neuen Elektronenquelle, die ringförmig angeordnet ist, so dass die Maschine ohne eine zweite Quelle auskommt.

Vor allem Gräser, Sprossensamen und Feinsämereien, wie z. B. Gemüse, Klee und Blumen, haben einen Durchsatz von weniger als fünf Tonnen pro Stunde. Und nur wenige Saatgutproduktionsstandorte haben einen Jahresumsatz, der eine Großanlage tragen könnte. Für diese Betriebe sei die Anlage besonders geeignet, denn die Investitionskosten seien nur noch etwa halb so hoch. Damit stünde solchen Betrieben eine Technik zur effektiven, ressourcenschonenden und umweltfreundlichen Saatgutbehandlung zur Verfügung, die gleichermaßen für Getreide und Mais, wie auch für Feinsämereien einsetzbar sei, so die Entwickler.

Friederike Heidenhof, www.aid.de

Weitere Informationen:

http://www.fep.fraunhofer.de

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